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    型號:

    光學(xué)膜厚測試儀XD-1000

    描述:光學(xué)膜厚測試儀XD-1000是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

    • 廠商性質(zhì)

      經(jīng)銷商
    • 更新時間

      2025-05-19
    • 訪問量

      1099
    詳細(xì)介紹
    品牌其他品牌價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

    光學(xué)膜厚測試儀XD-1000技術(shù)指標(biāo)

     

    光學(xué)膜厚測試儀分析元素范圍:硫(S)~鈾(U) 

    同時檢測元素:*多24個元素,多達(dá)5層鍍層 

    檢出限:可達(dá)2ppm,*薄可測試0.005μm

    分析含量:一般為2ppm到99.9% 

    鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同) 

    重復(fù)性:可達(dá)0.1%

    穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%

    *微孔準(zhǔn)直技術(shù):*小孔徑達(dá)0.1mm,*小光斑達(dá)0.1mm

    樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭 

    準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合 

    儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

    樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

    樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm

    X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

    X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um

    操作環(huán)境濕度:≤90%

    操作環(huán)境溫度:15℃~30℃ 

     

    光學(xué)膜厚測試儀XD-1000應(yīng)用領(lǐng)域 

     

    測量線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層

    電子行業(yè)中接插件和觸點(diǎn)上的鍍層

    裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS

    電鍍鍍層,如大規(guī)模生產(chǎn)零件(螺栓和螺母)上的防腐蝕保護(hù)層Zn/Fe,ZnNi/Fe

    測量電鍍液中金屬成分含量

    黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

    金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

    光學(xué)膜厚測試儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);LED照明、五金工具、半導(dǎo)體、電鍍企業(yè)等。

     

    產(chǎn)品介紹

     

    XD-1000光學(xué)膜厚測試儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 

     

    性能優(yōu)勢

     

    1.光學(xué)膜厚測試儀精密的三維移動平臺 

    2.的樣品觀測系統(tǒng) 

    3.*圖像識別 

    4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測 

    5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換 

    6.雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞 

    7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度 

    全自動智能控制方式,一鍵式操作!

    開機(jī)自動自檢、復(fù)位; 

    開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣; 

    關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦; 

    直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn); 

    點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結(jié)果。


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