X光膜厚儀測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

X光膜厚儀測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1％。
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1％。

標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm 
樣品腔尺寸：306×260×78mm 
重量：30kg

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
X光膜厚儀測(cè)厚儀金屬鍍層的厚度測(cè)量和電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。