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    型號(hào):XTD

    X光膜厚儀測(cè)厚儀

    描述:X光膜厚儀測(cè)厚儀是集多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿足貴金屬成分檢測(cè)的需要,人性化的設(shè)計(jì),使測(cè)試工作更加輕松完成。貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。

    • 廠商性質(zhì)

      經(jīng)銷(xiāo)商
    • 更新時(shí)間

      2025-05-19
    • 訪問(wèn)量

      988
    詳細(xì)介紹
    品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

    X光膜厚儀測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

     

    專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
    智能貴金屬檢測(cè)軟件,與儀器硬件相得益彰。
    任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
    相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
    多變量非線性回收程序。


     

    X光膜厚儀測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

     

    元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。
    測(cè)量對(duì)象:固體、液體、粉末
    分析檢出限可達(dá):ppm。
    分析含量一般為:ppm到99.9%。
    多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá):0.1%。
    長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為:0.1%。

     

    標(biāo)準(zhǔn)配置

     

    單樣品腔。
    正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。
    信號(hào)檢測(cè)電子電路。
    高低壓電源。
    X光管。
    外觀尺寸: 430×380×355mm 
    樣品腔尺寸:306×260×78mm 
    重量:30kg

     


     

     

     

    應(yīng)用領(lǐng)域

     

    黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
    X光膜厚儀測(cè)厚儀金屬鍍層的厚度測(cè)量和電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
    主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。


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