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    型號:

    金屬電鍍層厚度分析儀Thick800a儀器

    描述:金屬電鍍層厚度分析儀Thick800a儀器,儀器采用能量色散X熒光FpThick軟件,*FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式,測試時(shí)元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏

    • 廠商性質(zhì)

      經(jīng)銷商
    • 更新時(shí)間

      2025-05-18
    • 訪問量

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    詳細(xì)介紹
    品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

    實(shí)驗(yàn)表明,使用Thick800A 金屬電鍍層厚度分析儀對鍍件膜厚測試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。

     

    金屬電鍍層厚度分析儀是對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器,測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。測試方法主要分為:電渦流法、磁感應(yīng)法、金相法、庫侖法以及X射線熒光法。今天,我們主要為您講解后三種方法的區(qū)別以及關(guān)系。

     

    應(yīng)用X熒光法的優(yōu)勢

    1.緊固件螺絲鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理

    2.可快速對樣品做定性分析

    3.對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析

    4.譜線峰背比高,分析靈敏度高

    5.不破壞試樣,無損分析

    6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)

    7.設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡單

    8.快速:一般測量一個(gè)樣品只需要1~3分鐘,樣品可不處理或進(jìn)行簡單處理。

    9.無損:物理測量,不改變樣品性質(zhì)

    10.準(zhǔn)確:對樣品可以分析

    11.直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快

    12.環(huán)保:檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水


     

     1、測量原理比較

    測試方法 測試原理 
    金相法 利用金相顯微鏡放大橫截面的原理,對鍍層厚度放大,進(jìn)行觀測及測量。 
    庫侖法 利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層,根據(jù)所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度。 
    X射線光譜法 利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產(chǎn)生的離散波長和能量的二次輻射強(qiáng)度與覆蓋層單位面積質(zhì)量之間存在一定的關(guān)系。根據(jù)校正標(biāo)準(zhǔn)塊提供的單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正這一關(guān)系,給出覆蓋層線性厚度。 

     2、標(biāo)準(zhǔn)、要求、儀器的選型

    測試方法 參考標(biāo)準(zhǔn) 樣品要求 儀器 
    金相法 ASTM B487;GB/T 6462  鍍層厚度不小于1um 切割機(jī)、真空浸漬儀、研磨機(jī)、金相顯微鏡 
    庫侖法 ASTM B764;GB/T4955  平面不小于5mm2電解測厚儀 
    X射線光譜法 ASTM B568; GB/T16921 測試面積大于0.05×0.25mm X-ray鍍層測厚儀

     3、測試因素比較


    金相法 庫侖法 X射線光譜法 
    測試范圍 >1um 0~35um 重金屬0~10um 、其它0~35um 
    測試精度 高 稍差 高 
    制樣 制樣復(fù)雜 配置不同電解液 簡單 
    工件損傷 有損 有損 無損 
    操作方法 操作復(fù)雜 復(fù)雜 簡單 
    測試效率 非常低 低 高 
    層數(shù) 不限 單層和Cr/Ni/Cu復(fù)合鍍層 多5層 
    鍍層預(yù)知 不需要 需要 需要 
    合金鍍層厚度 可測 不可測 可測 
    合金成分 EDS聯(lián)用 不可測 可測 
    溶液成分測試 不可測 不可測 可測 
    人為因素 影響大 影響大 影響小 
    價(jià)格 較高 低 高 


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